led灯珠寿命测试报告_led灯珠寿命测试

led灯珠寿命测试报告_led灯珠寿命测试

一、概论led灯珠将用于评价寿命特性的测试称为寿命试验。寿命试验是led灯珠研究寿命特性的方法，该方法可以在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验可靠性测试中最重要的最基本的项目之一，将led灯珠置于特定的测试条件下，考察其失效（破损）随时间变化的法则。根据寿命试验，寿命？使用应力关系模型，可以理解led灯珠的寿命特性、失效规律、失效率、平均寿命以及寿命试验过程中可能发生的各种失效模式。结合失效分析，led灯珠可以进一步阐明导致失效的主要失效机制，作为可靠性设计、可靠性预测、新产品质量改善和合理筛选、例证（批保证）试验条件的确定等依据。

为了缩短测试时间，可以使用不变更失效机制而增大应力的方法，即加速寿命试验。寿命试验能够评价led灯珠的可靠性等级，通过品质反馈提高产品的可靠性等级。寿命试验是在相对稳定的生产过程条件下，除去早期失效产品后进行的试验，通过寿命试验可以知道led灯珠寿命分布的统计规律。寿命试验可根据任务条件分为存储寿命试验、作业寿命试验。通过施加应力，可以分为长期寿命试验、加速寿命试验。根据数据处理方式，可以分为定时端测试和常量端测试。

二、记忆寿命试验在规定的环境条件下进行非动作状态的保存测试，称为保存寿命试验。存储环境是指led灯珠能够在存储中遇到的环境，是影响存储中的led灯珠多个要素的总和，根据性质可以分为自然存储环境和人工存储环境。根据场所的不同，分为仓库环境、小屋环境、露天环境等。在储藏过程中影响led灯珠的主要原因是温度、湿度、霉菌、气压、腐蚀介质等，其中温度和湿度的影响最大。

储藏寿命试验条件通常为室内、棚下、露天等，所以储藏的环境试验方法也被称为天然暴露试验。在不可修led灯珠的情况下，存储寿命是指在规定条件下存储的情况下从存储开始到失效为止的存储时间。在可修复led灯珠的情况下，存储寿命是指从存储开始到不可修复为止的存储时间。贮存寿命试验通常需要更多的试验样品和长期的观察测量来对产品进行良好的预测和评估。无论哪个led灯珠，无论是存储状态还是动作状态，都具有一定的寿命。整个生命周期都经历了从诞生到存储、运输、待机、工作到失效的过程。在存储过程中，led灯珠影响可靠性的因素很多，除了环境因素的影响之外，存储时间、存储方式等也会受到影响。

每个过程中，led灯珠所放置的环境不同，存储时间也不同。为了保证led灯珠的可靠性，必须保证led灯珠在任何过程中都完成规定的动作，不失效。大部分led灯珠处于工作阶段，其可靠性与工作环境、工作时间密切相关。

然而，对于一些特殊的led灯珠，例如电子系统电子装置和空间电子装置，由于其使用时间比存储时间短得多，所以操作可靠性与存储时间和环境有很大的关系。对于这种特殊的led灯珠来说，记忆时间和环境是研究其可靠性的重要指标。随着科学技术的快速发展，产品更新和换代周期越来越短，需要在更短的时间内获得led灯珠可靠性指标和寿命等信息。但是，在通常的存储寿命试验方法中，需要大量的试验时间、人力和物力，由于产品的更新和世代交替等问题，长时间存储寿命试验的结果可能失去了实用的意义。

因此，为了缩短测试时间，需要加速存储器寿命试验。加速存储寿命试验以不变更led灯珠的实际存储条件下的失效机制、不追加新的失效机制为前提，以增加存储环境试验应力的方法使产品的失效加速，根据该测试结果预测通常存储环境应力中的led灯珠的存储寿命是在相对短的时间内失效率取得数据的技术。

三、工作寿命试验led灯珠将在规定条件下施加规定的应力的测试称为动作寿命试验。动作寿命试验提供动作状态下的可靠性特性参数led灯珠。由于作业寿命试验与led灯珠的实际使用状况比较吻合，因此该测试结果是led灯珠可靠性的主要指标之一。

动作寿命试验被分为间歇动作寿命、稳定动作寿命试验，稳定动作寿命试验被分为静态动作寿命、动态动作寿命试验两个。断续动作寿命试验通过使产品断断续续地施加应力，使产品受到“开”和“闭”之间的周期性变化电应力，从而加速led灯珠内部的物理、化学反应过程，但是这样的周期性变化电应力导致led灯珠和外壳的温度的周期性变化最终获得测量led灯珠的典型失效率或确认led灯珠的质量或可靠性。

稳定操作寿命是验证满足预定条件的产品在所有操作时间内的质量或可靠性。在额定工作条件下持续施加额定应力寿命试验，保证试验时间足够长，其结果不具有早期失效或“初始失效”的特征，寿命试验期间失效率是否随时间显著变化，需要观察。

如果以稳定状态寿命试验评价产品的基本能力，或鉴定led灯珠，使led灯珠以后的可靠性高的情况下能够使用，则输入电、负载、偏压、以及必须选择对应的最高动作温度或试验温度或其他规定环境条件表示led灯珠的最大动作额定值或试验额定值等适当的测试条件。

静态动作寿命试验是指在稳定状态寿命试验下没有信号输入，在动态动作寿命试验中，表示在稳定状态寿命试验下有信号输入。

四、加速寿命试验加速寿命试验是指，为了预测在通常的工作条件或储藏条件下的可靠性，使用增大应力的方法使样品在短时间内失效，但不变更被试验样品的失效机制。如试验时施加应力那样，加速寿命试验分为恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验和序进应力加速寿命试验。恒定应力所谓加速寿命测试，是指样品在试验中受到的应力保持恒定。图1恒定应力加速试验模式步进应力加速寿命试验意味着样品在试验过程中受到的应力以一定时间间隔逐步增加，直到样品发生充分的劣化。

步进应力加速试验示意图序进应力加速寿命试验意味着样品在试验过程中受到的应力以时间相等的速度增加，直到样品发生充分的劣化。

序进应力加速试验示意图加速寿命试验具有大幅缩短通常的应力寿命试验所需的时间，能够节约人力和设备的优点。但是，加速寿命试验也有界限。

1.因为是破坏测试，所以只抽取一部分样品进行测试。当然，从统计的角度来看，足以表示产品的可靠性水平，但存在可靠性问题。

2.对于集成电路这样相对复杂的led灯珠，实际起主导作用的失效机制往往复杂，有些是事先无法预知的，如果用单一的加速变量加速的话，其结果就不全面。另外，在失效机制不明的情况下，采用加速外推的方法，其结果必然产生较大误差。即，在具有多个失效机构led灯珠中，难以实现理想的加速寿命试验。

3.只考虑加速寿命试验试验的加速度，不考虑led灯珠的应用问题。实际上，用户预计将led灯珠用于设备，保存和运用时间长。因此，led灯珠对于用户来说，也需要在通常的应力或使用应力下的长期寿命试验，因为能够实质上反映使用条件下的寿命特性，所以很重要。

4.led灯珠加速寿命试验的基本假设是高应力条件下的失效机制与通常的应力条件下的失效机制相同。此外，测试数据分析需要选择或假定应力和寿命的函数关系。实际上，高应力可以引入在通常条件下不会发生的新的失效模式，当一些不同的应力共同作用时，各种失效模式对应力具有不同的灵敏度，各失效模式的发生概率随着应力的变化而变化。

即，led灯珠加速寿命试验的基本假设通常难以保证。应力寿命关系模型具有潜在的多样性和复杂性。led灯珠试验条件千变万化。

根据加速寿命试验推定led灯珠寿命可能与现场观察到的寿命有很大的不同，可能存在1位数以上的差。因此，led灯珠只要测试条件接近现场使用条件，测试数据的分析和建模不适当，led灯珠从加速寿命试验数据推定的可靠性只能视为固有可靠性的近似，不应视为现场可靠性指标。虽然有界限，但是不影响加速寿命试验的有用性。